Лаборатория электронной микроскопии

По вопросам сотрудничества обращаться к заведующему кафедрой физической химии, д.х.н., профессору Шеину Анатолию Борисовичу. Тел. (342) 239 64 68, e-mail: ashein@psu.ru.

 

Научно-исследовательская лаборатория электронной микроскопии предназначена для выполнения фундаментальных и прикладных НИР в области прикладной химии, коррозии, химического материаловедения, водородной энергетики, интегральной оптики, а также для проведения НИР студентами и аспирантами химического факультета.

 

 

• Разработка и получение новых композиционных материалов с широким комплексом функциональных свойств;

• Исследование структуры и состава материалов после коррозионных и электрохимических испытаний в различных средах;

• Оценка качества получаемых полифункциональных покрытий;

• Разработка и исследование свойств материалов для водородной энергетики;

• Изучение  и модификация свойств материалов (для получения заданного комплекса оптических характеристик), использующихся в интегральной оптике.

 

 

• Автоматическая система анализа микротвердости на базе моторизованного микротвердомера DM 8 фирмы AFFRI di Affri R (Италия). Данный прибор предназначен для измерения микротвердости металлов, сплавов и других материалов по шкалам Виккерса (в соответствии с ГОСТ 9450-76), в т.ч. поверхностных слоев металла при механической обработке, отдельных составляющих у структурно неоднородных сплавов, незначительных по толщине гальванических и других покрытий.

• Сканирующий электронный микроскоп Hitachi с приставкой для локального микрорентгеноспектрального анализа (Япония). Комплекс для изучения состояния поверхности и химического состава кристаллических и аморфных веществ. Используется для анализа образцов антикоррозионных материалов, композиционных покрытий, сплавов, порошковых материалов, руд, поверхности готового изделия и др. Приставка для энергодисперсионного анализа предназначена для определения качественного и количественного химического состава твердотельных образцов, а также распределение компонентов  на поверхности исследуемых материалов.

Сканирующий электронный микроскоп Hitachi

• Комплекс бесконтактного исследования структуры поверхности 3D-профилометр NewView 5000 фирмы Zygo (США), предназначен для исследования рельефа поверхности (шероховатости) широкого класса материалов, в т.ч. для контроля и выявления дефектов на различных стадиях получения материалов, изготовления интегрально-оптических схем, микроэлектромеханических систем (МЭМС). Результат в виде изображения плоской поверхности с цветным распределением микронеровностей по высоте, объемное изображение тестируемой поверхности с цветным распределением микронеровностей по высоте и размерами поля обзора в зависимости от объектива, профиль рельефа в плоскости сечения и черно-белое изображение тестируемой поверхности.

• Оптический микроскоп Olimpus BX51 предназначен для проведения комплексных исследований поверхности исследуемых материалов.

Оптический микроскоп Olimpus BX51

• Автоматизированная система для исследования электрокинетических свойств коллоидных систем и поверхностей DelsaNano фирмы Beckman Coulter (США) предназначена для анализа размера субмикронных частиц (от 0,6 нм до 7 мкм) и определения дзета-потенциала. Возможно осуществление мониторинга размеров частиц в реальном времени (устойчивость дисперсных систем); измерение дзета-потенциала плоских поверхностей, покрытий, пленок, волокон; анализировать образцы с низкой проводимостью; установления молекулярной массы белков, полимеров, коллоидных частиц.

• Шлифовально-полировальная машина марки «STRUERS LaboPol-2» предназначена для механической подготовки поверхности перед металлографическими, электронно-микроскопическими исследованиями, а также при осаждении композиционных покрытий. Полирование проводится на шлифовальных кругах «Sic-Paper» класса 1000÷220, что соответствует диаметру зерна 50÷100 мкм.